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      • TF-240 輕質元素*檢測薄膜

        美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其低的(幾乎不含)雜質和厚度均勻而嚴格生產,好的柔韌性和抗化學腐蝕性,保證檢測結果的可靠性和重現性,被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。TF-240 輕質元素*檢測薄膜

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        產品價格:面議
        廠商性質:代理商
        更新日期:2024-05-17
      • 25.4μ樣品麥拉膜TF-225

        美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其低的(幾乎不含)雜質和厚度均勻而嚴格生產,好的柔韌性和抗化學腐蝕性,保證檢測結果的可靠性和重現性,被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。25.4μ樣品麥拉膜TF-225

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        更新日期:2024-05-17
      • 麥拉膜薄膜TF-115

        美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其極低的(幾乎不含)雜質和厚度均勻而嚴格生產,*的柔韌性和抗化學腐蝕性,保證檢測結果的可靠性和重現性,被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。麥拉膜薄膜TF-115

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        更新日期:2024-05-17
      • 2.5 μm卷狀樣品薄膜型號100

        美國Chemplex樣品膜被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測,適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。2.5 μm卷狀樣品薄膜型號100

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        更新日期:2024-05-17
      • 3.6 μm樣品薄膜--150

        美國Chemplex樣品膜被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測,適用于WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。3.6 μm樣品薄膜--150

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      • 邁拉膜、樣品薄膜--156

        美國Chemplex樣品膜被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測,適用于WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。邁拉膜、樣品薄膜--156

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